Espectròmetre de fluorescència de raigs X
Oficina de Qualitat i Supervisió Tècnica (Directiva Ambiental)
RoHS/Rohs (Xina)/ELF/EN71
Joguina
Paper, ceràmica, pintura, metall, etc.
Materials elèctrics i electrònics
Semiconductors, materials magnètics, soldadura, peces electròniques, etc.
Acer, metalls no fèrrics
Aliatges, metalls preciosos, escòries, minerals, etc.
indústria química
Productes minerals, fibres químiques, catalitzadors, recobriments, pintures, cosmètics, etc.
medi ambient
Sòl, aliments, residus industrials, carbó en pols
Oli
Oli, oli lubricant, oli pesat, polímer, etc.
altres
Mesura de gruix de recobriment, carbó, arqueologia, investigació de materials i forense, etc.
● Tres tipus diferents de sistemes de seguretat de radiació de raigs X, enclavaments de programari, enclavaments de maquinari i enclavaments mecànics, eliminaran completament les fuites de radiació en qualsevol condició de treball.
● L'XD-8010 inclou un camí òptic de disseny únic que minimitza les distàncies entre la font de raigs X, la mostra i el detector alhora que manté la flexibilitat per canviar entre una varietat de filtres i col·limadors.Això millora significativament la sensibilitat i redueix el límit de detecció.
● La cambra de mostres de gran volum permet analitzar directament mostres grans sense necessitat de danys o tractament previ.
● Anàlisi senzilla amb un sol botó mitjançant una interfície de programari còmoda i intuïtiva.No es requereix formació professional per realitzar el funcionament bàsic de l'instrument.
● El XD-8010 proporciona una ràpida anàlisi elemental d'elements de S a U, amb temps d'anàlisi ajustables.
● Fins a 15 combinacions de filtres i col·limadors.Hi ha filtres de diversos gruixos i materials disponibles, així com col·limadors que van des de Φ1 mm fins a Φ7 mm.
● La potent funció de format d'informes permet una personalització flexible dels informes d'anàlisi generats automàticament.Els informes generats es poden desar en formats PDF i Excel.Les dades d'anàlisi s'emmagatzemen automàticament després de cada anàlisi. Les dades històriques i les estadístiques es poden accedir en qualsevol moment des d'una interfície de consulta senzilla.
● Amb la càmera de mostra de l'instrument, podeu observar la posició de la mostra respecte al focus de la font de raigs X.Les imatges de la mostra es prenen quan comença l'anàlisi i es poden mostrar a l'informe d'anàlisi.
● L'eina de comparació d'espectres del programari és útil per a l'anàlisi qualitativa i la identificació i comparació de materials.
● Mitjançant l'ús de mètodes provats i eficaços d'anàlisi qualitativa i quantitativa, es pot assegurar l'exactitud dels resultats.
● La funció d'ajust de corba de calibratge oberta i flexible és útil per a una varietat d'aplicacions com ara la detecció de substàncies nocives.
Mètode d'anàlisi d'elements nocius
| Substancies perilloses | Exemple | |
| Anàlisi de cribratge | Anàlisi detallada | |
| Hg | Espectroscòpia de raigs X | AAS |
| Pb | ||
| Cd | ||
| Cr6 + | Espectroscòpia de raigs X (anàlisi del Cr total) | Cromatografia iònica |
| PBB / PBDE | Espectroscòpia de raigs X (anàlisi de Br total) | GC-MS |
Procés de gestió de la qualitat
Mesura d'elements traça nocius en mostres de polietilè, com ara Cr, Br, Cd, Hg i Pb.
• La diferència de valors donats i els valors reals de Cr, Br, Cd, Hg i Pb.
La diferència dels valors donats i els valors reals de Cr, (Unitat: ppm)
| Mostra | Valor donat | Valor real (XD-8010) |
| En blanc | 0 | 0 |
| Mostra 1 | 97.3 | 97.4 |
| Mostra 2 | 288 | 309,8 |
| Mostra 3 | 1122 | 1107.6 |
La diferència dels valors donats i els valors reals de Br, (Unitat: ppm)
| Mostra | Valor donat | Valor real (XD-8010) |
| En blanc | 0 | 0 |
| Mostra 1 | 90 | 89,7 |
| Mostra 2 | 280 | 281.3 |
| Mostra 3 | 1116 | 1114.1 |
La diferència dels valors donats i els valors reals de Cd, (Unitat: ppm)
| Mostra | Valor donat | Valor real (XD-8010) |
| En blanc | 0 | 0 |
| Mostra 1 | 8.7 | 9.8 |
| Mostra 2 | 26.7 | 23.8 |
| Mostra 3 | 107 | 107,5 |
La diferència dels valors donats i els valors reals og Hg, (Unitat: ppm)
| Mostra | Valor donat | Valor real (XD-8010) |
| En blanc | 0 | 0 |
| Mostra 1 | 91,5 | 87,5 |
| Mostra 2 | 271 | 283,5 |
| Mostra 3 | 1096 | 1089,5 |
La diferència dels valors donats i els valors reals de Pb, (Unitat: ppm)
| Mostra | Valor donat | Valor real (XD-8010) |
| En blanc | 0 | 0 |
| Mostra 1 | 93.1 | 91.4 |
| Mostra 2 | 276 | 283,9 |
| Mostra 3 | 1122 | 1120.3 |
Les dades de mesura repetides de la mostra 3 Cr1122ppm, Br116ppm, Cd10ppm, Hg1096ppm, Pb1122ppm (Unitat: ppm)
| Cr | Br | Cd | Hg | Pb | |
| 1 | 1128,7 | 1118.9 | 110.4 | 1079,5 | 1109.4 |
| 2 | 1126.2 | 1119,5 | 110.8 | 1072,4 | 1131,8 |
| 3 | 1111.5 | 1115,5 | 115,8 | 1068,9 | 1099,5 |
| 4 | 1122.1 | 1119.9 | 110.3 | 1086.0 | 1103.0 |
| 5 | 1115.6 | 1123,6 | 103.9 | 1080,7 | 1114.8 |
| 6 | 1136,6 | 1113.2 | 101.2 | 1068,8 | 1103.6 |
| 7 | 1129,5 | 1112.4 | 105.3 | 1079,0 | 1108.0 |
| Mitjana | 1124.3 | 1117.6 | 108.2 | 1076,5 | 1110.0 |
| Desviació estàndar | 8.61 | 4.03 | 4,99 | 6.54 | 10.82 |
| RSD | 0,77% | 0,36% | 4,62% | 0,61% | 0,98% |
Filtre secundari per a element Pb (mostres de substrat d'acer), mostra: acer (Pb 113 ppm)
1.La radiació de raigs X del tub de raigs X primari s'irradia a través d'un col·limador a la mostra.
2.Característiques d'excitació de raigs X primaris dels elements continguts en la mostra Raigs X a través del col·limador secundari cap al detector
3.Processat a través del detector, formant dades d'espectroscòpia de fluorescència
4.S'ha completat l'anàlisi de dades d'espectroscòpia per ordinador, l'anàlisi qualitativa i quantitativa
| Model | NB-8010 | |
| Anàlisi principi | Fluorescència de raigs X amb dispersió d'energia anàlisi | |
| Gamma d'elements | S (16) | |
| Mostra | Plàstic / metall / pel·lícula / sòlid / líquid/pols, etc., qualsevol mida i forma irregular | |
| tub de raigs X | Objectiu | Mo |
| Tensió del tub | (5-50) kV | |
| Corrent del tub | (10-1000) i altres | |
| Irradiació de la mostra diàmetre | F1mm-F7mm | |
| Filtre | 15 jocs de filtre compost són seleccionat automàticament i la conversió automàtica | |
| Detector | Importacions dels Estats Units Detector Si-PIN | |
| El tractament de dades targeta de circuits | Importacions dels Estats Units, amb l'ús de conjunts de detectors Si-PIN | |
| Mostra observació | Amb càmera CCD de 300.000 píxels | |
| La cambra de mostres mida | 490 (L)´430 (W)´150 (H) | |
| Mètode d'anàlisi | Línies de codi lineals, quadràtiques, correcció de calibratge de força i concentració | |
| Sistema operatiu programari | Windows XP, Windows 7 | |
| Gestió de dades | Gestió de dades d'Excel, informes de proves, Format PDF/Excel desat | |
| Treball medi ambient | Temperatura: 30€°C. Humitat £70% | |
| Pes | 55 kg | |
| Dimensions | 550´450´395 | |
| Font d'alimentació | AC220V±10%, 50/60Hz | |
| Determinació condicions | Ambient atmosfèric | |