Microscopi de força atòmica
-
microscopi afm de força atòmica
Marca: NANBEI
Model: AFM
Microscopi de força atòmica (AFM), un instrument analític que es pot utilitzar per estudiar l'estructura superficial de materials sòlids, inclosos els aïllants.Estudia l'estructura superficial i les propietats d'una substància detectant la interacció interatòmica extremadament feble entre la superfície de la mostra a provar i un element sensible a la microforça.
